Cristalografía de Rayos X
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La cristalografía de rayos X es un método que permite determinar el arreglo tridimensional de los átomos dentro de un cristal. Los rayos X son una forma de radiación electromagnética de alta energía y pequeña longitud de onda, del orden del tamaño de los átomos, de tal manera que puede interactuar con ellos. Cuando un haz de rayos X incide sobre un cristal difracta en direcciones específicas y genera un patrón de difracción que depende de la simetría interna del cristal. A partir del ángulo y de la intensidad de estos rayos difractados se puede reproducir una imagen tridimensional de la densidad de los electrones dentro del cristal y a partir de esta densidad se puede determinar la posición promedio de los átomos, sus enlaces químicos, su desorden relativo y alguna otra información dependiendo de la calidad de los cristales y de su difracción.
